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NI 半導體 DC 參數檢測系統

本文作者:NI       點擊: 2012-07-04 23:04
前言:
NI 半導體 DC 參數檢測系統  
 
 

以 PXI 規格進行高精確度模組化儀控的網路研討會,以進一步於半導體裝置上建立彈性的 DC 參數檢驗量測系統……

[ 熱門資源]: PXI TAC 活動資源分享: http://bit.ly/KrUZu2

[ 推薦影片]: 以 PXI 提升半導體的檢驗測試:

http://zone.ni.com/wv/app/doc/p/id/wv-408

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