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愛德萬測試參加2015 SEMICON Europa歐洲半導體展

本文作者:愛德萬測試       點擊: 2015-10-06 17:00
前言:
2015年10月6日--半導體測試設備領導者愛德萬測試 (Advantest) 將參加「SEMICON Europa歐洲國際半導體展」,該展會從10月6至8日於德國德勒斯登舉行。愛德萬測試將在德勒斯登展覽中心 (Messe Dresden) 第一展館 (Hall 1) #1366號攤位,展出旗下全系列車用、通訊及消費性電子元件測試解決方案,以及量測與高階電子束微影系統。

現場展示產品包括:多功能V93000平台─可針對多組同測射頻 (RF) 應用元件加速完成品質檢驗,並能測試物聯網元件;T2000 IPS測試機台─除測試整合式電源元件外,亦應用於可支援類比元件、高速元件、高密度元件等各種尖端晶片測試需求的效能電路板。高階量測與奈米圖樣應用產品則有:用於檢測新一代晶圓、光罩與基材的E3310、E3640及E5610掃描式電子顯微鏡系列;以及專為高階技術節點所開發的F7000電子束微影系統。歡迎親臨愛德萬測試攤位了解詳情。

另外現場也會示範EVA100測試機台對低接腳數半導體的數位/類比測試,以及愛德萬測試的CloudTesting™ 雲端測試服務─這項服務可讓設計人員/可測試性設計工程師利用高階IP、特性工具、分析系統等,以最新高品質測試法進行測試。
愛德萬測試也將以「Testing IoT Devices:The Next ATE Challenge」為題發表論文,歡迎各界先進於10月7日上午11:30蒞臨Tech Lounge批評指導。
 
關於愛德萬測試
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商,專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外,該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術之發展,積極開發新興市場,近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡,以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立,並在1983年於德國成立第一家子公司,迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站
www.advantest.com

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